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膜厚仪如何使用?

发布时间:2018-07-13    发布人:膜厚仪    浏览数:

  即使相同的膜厚仪,不同的人或对不同种类、状态基材上的相同涂层测量出来的数据也可能会存在较大差别,这是因为测量人员因素、测量漆膜的基体材质、厚度、表面状况以及测量位置等造成的。因此,在使用膜厚仪检测涂层厚度时,不仅操作方法要正确,还必须针对具体基材进行调整。
  
  使用前应仔细阅读膜厚仪使用说明书
  
  不同膜厚仪厂家、不同品牌的仪器在结构、按键、校准等方面各不相同,因此使用前必须先仔细阅读仪器的使用说明书,避免误操作造成测量数据的错误。
  
  检测环境
  
  周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作,使用时应尽量远离强磁场环境。
  
  注意膜厚仪金属基体材质
  
  不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的,这都会对测量结果造成影响[9]。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同,导致其电导率不同,因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
  
  注意检测试件形状
  
  在实际生产中,工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异,这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响,如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度,检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠,实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变,还可能存在不同的曲率,一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此,即使在选择膜厚仪时考虑了最小曲率半径,测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。
  
  以上也是在选择膜厚仪器时需要考虑最小曲率半径、最小测量面积、最小基体厚度的原因。
  
  另外,实际生产中,不同工件的表面粗糙度也不尽相同。粗糙程度越大,对一些仪器的测量结果影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。这一点,很多厂家的仪器使用说明书里都没有指出。我们分别用国产和进口膜厚仪在平面上校准后测量抛丸后的表面,读数在10 ~ 30 μm 不等。也就是说,如果按此方法,测量出来的数据比漆膜的实际厚度会大10 ~ 30 μm,即漆膜实际厚度达不到设计要求。因此,如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置来校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去涂层后,再校对仪器的零点。当然,当漆膜厚度为基材表面粗糙度的5 ~ 6 倍时,可以将粗糙度忽略。总之,仪器的校准必须依据现场被涂工件表面粗糙度来进行。
  

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